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最新研制Φ350口径平面干涉仪
来源:上海星庆光学仪器有限公司 日期:2013-06-17 16:55:38 人气:
我公司于近期利用自产干涉仪的技术研制成功了一台350口径大型
平面干涉仪,用以检测大口径平面面型精度。
上一个:
引进全新高速抛光技术,提高生产效能
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测角仪也能接显示器
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