XQ6J-GIII (激光球面干涉仪) XQ6J-GIII Laser Interferometer

XQ6J-GⅢ型球面干涉仪主要用于精密光学平面和球面的面型测量，球面曲率半径测量，光学系统波前测量,光学材料均匀性测量,干涉图像既能目视观察也能通过监视器展现，方便观测。是光学元件加工厂、光学仪器生产厂、大专院校、职工培训机构以及计量单位必备的光学检测仪器及教学设备。

功能齐全、操作简便,、经济实用。球面零件曲率半径R值和面形精度实现了同机测量，为使用者省去了制作标准样板的烦脑更降低了生产成本。