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XQZ光学测角比较仪 |
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XQZ光学测角比较仪
日期：2019-02-07 人气：
 | 用途和特点：
可广泛适用于光学及机械制造业中，计量部门、车间以及研究院、所的实验室。实施光学棱镜、光学平板的自准测量、参照标准角规对金属零件及光学零件的比较测量；导轨的直线度及平板的平面度校准测量；两个平面的垂直度、轴与轴端面垂直度测量等。
该系列仪器操作简便、直观，测量稳定可靠，借助辅助设备用途广泛。 |
技术参数： 型号
Model | 示值
Graduation | 分度范围
Scale Range | 目镜放大倍率
Magnification | 示值不确定度
Uncertainty | 工作距离范围
working range | 外形
Dimension(D×W×H) | XQ60-ZⅠ | 1′ | V60′,H40′ | 10×/15× | ±6″ | 0～1.4m | 200×250×400 | XQ15-ZⅡ | 15″ | V50′,H38′ | 20× | ±3″ | 0～1.4m | 200×250×400 |
选配件：
CCD监控系统（适用ZI、ZII型）
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